Descripción
El examen por microscopía óptica de luz (LOM) debe realizarse siempre antes de cualquier técnica metalográfica electrónica (EM), ya que ésta requiere más tiempo y los instrumentos son mucho más caros.
Además, algunas características pueden observarse mejor con la LOM, por ejemplo, el color natural de un componente puede verse con la LOM pero no con los sistemas EM. Además, el contraste de la imagen de las microestructuras a aumentos relativamente bajos, por ejemplo, <500X, es mucho mejor con el LOM que con el microscopio electrónico de barrido (SEM), mientras que los microscopios electrónicos de transmisión (TEM) generalmente no pueden utilizarse a aumentos inferiores a unos 2000 a 3000X. El examen con el LOM es rápido y puede abarcar una gran superficie. De este modo, el análisis puede determinar si son necesarias las técnicas de examen más caras y que requieren más tiempo, utilizando el MEB o el MET, y en qué parte de la muestra debe concentrarse el trabajo.
